振動試驗臺振動功能有五種：定頻振動、掃頻振動、可程式振動、倍數(shù)振動、對數(shù)振動。
1、定頻振動只能設定一個振動頻率，且兩個臺體只能按照這一個設定頻率振動。
2、掃頻振動是設定兩個頻率，振動試驗臺在這兩個頻率之間往復振動。
3、可程式振動在16段頻率內由低到高再由高到低任意反復循環(huán)，每段頻率振動時間任意設定。
4、倍數(shù)振動在16段頻率內由低到高成倍數(shù)增加再由低到高反復循環(huán)振動。
5、對數(shù)振動則是波形以對數(shù)方式執(zhí)行。
振動試驗臺產品功能：  
1.調頻功能：在頻率范圍內任意設定頻率。  
2.掃頻功能：（上限頻率/下限頻率/時間范圍）可任意設定。  
3.可程式功能：任意調整1~15段每段可任意設定（頻率/時間）可循環(huán)。  
4.對數(shù)功能：①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。  
5.倍頻功能：任意調整1~15段成倍數(shù)增加，①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。  
6.顯示振幅加速度：如需看出振幅、加速度、大加速度、準確數(shù)值需另購測量儀（另購）。  
7.全功能電腦控制：485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦（另購）。  注：定頻50HZ的無調頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。

振動試驗臺產品特點：
1．精密型設計制造、體積小、超靜音工作
2．機臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調節(jié)功能，使設備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實時同步顯示，無須人工干預。（各種控制條件，可于運轉中監(jiān)視之）
5．內嵌式振幅預測程序及調幅容易
6．四點同步激振，臺面振動均勻
7．無級調整振幅，定頻及掃頻操作功能適應不同行業(yè)多種試驗要求
8．增加抗干擾電路,解決因強電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制

振動試驗臺技術參數(shù)：1．大試驗負載(Kg)：602．設時范圍：0.01S-99.99H3．手動調頻范圍(Hz)：1~2004．工作臺面尺寸(mm)：550×550×465．自動掃頻范圍(Hz)：1~2006．工作臺體尺寸(mm)：550×550×3507．空載位移幅值(mm)：0~58．控制箱尺寸(mm)：450×330×7509．振動方向：垂直10．電源電壓(V/Hz)：220/50±2%11．振動波形：正弦波12．消耗功率(KVA)：1.713．測試模式：調頻/自動掃頻（線性振動）14．標準：GB/T2423.10

振動試驗臺系統(tǒng)技術指標：
激振力：正弦：1960N（200kg.f）
頻率范圍：垂直臺：5Hz~4500Hz
額定加速度：980m/s2（100g）
額定速度：1.75m/s
額定位移：25mm（p-p）
大載荷：70kg
運動部件有效質量：垂直臺：2kg
電源：3相4線380VAC10%50Hz
消耗功率：5.5kVA
連續(xù)工作時間：8h
工作環(huán)境：溫度0~40℃
濕度90%RH（25℃）
保護功能：本系統(tǒng)具有12種自動保護聯(lián)鎖功能。
電源：AC380V10%50Hz7kVA
振動試驗臺是用于在實驗室內模擬真實振動環(huán)境效應的試驗設備，振動試驗是在振動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機振動，由于兩者的物理過程不同，在兩者之間沒有嚴格的等效關系，所以在選擇試驗方式時，切勿進行正弦到隨機的嚴酷度等級轉換。
正弦振動試驗使用固定或變化的頻率和幅值的正弦信號，在每一瞬間時僅施加一個頻率，試驗條件包括頻率范圍或固定頻率、振幅和試驗持續(xù)時間。
真實環(huán)境中正弦振動很少一單一頻率的振動形式立出現(xiàn)。即使在旋轉的機械上直接測量加速度時也是這樣。如齒輪和軸承，實際存在的公差和間隙，通常導致在頻率上有微小的變化。旋轉機械的隨機特性也會發(fā)生某種形式的隨機振動。
正弦振動可以描述為確定性運動，遵循確定的規(guī)律，完全可以從過去的狀態(tài)來確定未來任意時間的狀態(tài)。在進行正弦掃頻試驗過程中，改方法通常用來確定出現(xiàn)失效的時刻，因為這個失效很可能是和特定頻率密切相關的，而用隨機振動試驗試驗方法這種相關效果不是很明顯。當然，相對于隨機試驗方法，正弦試驗方法通常需要用更長的時間激發(fā)出失效，這是因為每次掃頻過程中，在每個共振點上只作用很短的時間。盡管在任一時刻只施加一個頻率，如果掃頻速率足夠慢，確實可以使得樣品的特定共振峰達到大。也可以用來發(fā)現(xiàn)潛在的破壞性共振點，尤其是在設計和研制試驗中。
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